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CEM3000高效精準(zhǔn)掃描電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng),優(yōu)于4nm的空間分辨率,保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像,能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。通過加裝各類探頭和附件,滿足用戶的拓展性需求,這使其在材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)、能源等多個領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。
CEM3000系列快速低真空抽氣掃描電鏡整機(jī)經(jīng)過深入優(yōu)化,在結(jié)構(gòu)方面尺寸利用率優(yōu),確保其出色的性能不再受環(huán)境尺寸的制約,無論是日常的工作桌面、還是狹小空間,CEM3000系列臺式掃描電鏡總能陪伴用戶出現(xiàn)在有需要的地方。
NS系列薄膜臺階儀品牌亞埃級精度、多場景適配性與智能化操作,可精準(zhǔn)測量臺階高度(納米至1050μm)、表面粗糙度(Ra、Rz等參數(shù))、膜層厚度及應(yīng)力分布,為材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與質(zhì)量管控提供可靠數(shù)據(jù)支持。
VT6000粗糙度輪廓度共聚焦顯微鏡具有直觀測量的特點(diǎn),能夠有效提高工作效率,更加快捷準(zhǔn)確地完成日常任務(wù)。主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級測量,賦能超精密加工行業(yè)高效管控,如半導(dǎo)體制造、3C電子、航空航天等超精密加工領(lǐng)域。
中圖儀器CEM3000系列鎢燈絲桌面掃描電鏡高分辨率成像+多種成像參數(shù)可選,微尺度特征(如60nm銀線)清晰呈現(xiàn),滿足材料分析、缺陷檢測等專業(yè)級需求。
中圖儀器NS系列膜層厚度臺階高度測量儀亞埃級精度,(LVDC傳感器核心)憑借亞埃級分辨率、多場景適配性與智能化操作,直擊半導(dǎo)體、光伏、MEMS等行業(yè)測量痛點(diǎn),為材料研發(fā)、工藝優(yōu)化、質(zhì)量管控提供精準(zhǔn)數(shù)據(jù)支撐。
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