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簡(jiǎn)要描述:中圖儀器WD4000晶圓測(cè)量?jī)x設(shè)備從采購(gòu)到報(bào)廢,全周期售后服務(wù)全程護(hù)航。無論是研發(fā)升級(jí)、批量質(zhì)檢還是現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè),都能精準(zhǔn)匹配你的核心需求。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 中圖儀器 | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 否 |
WD4000晶圓測(cè)量?jī)x設(shè)備非接觸+三維微納形貌一體測(cè)量,全周期售后服務(wù)賦能超精密加工。在襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測(cè)、3C 電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、顯示面板、MEMS 器件等超精密加工行業(yè),自動(dòng)測(cè)量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。

針對(duì)超精密加工行業(yè)多設(shè)備測(cè)量繁瑣、易損傷工件、數(shù)據(jù)不同步、售后響應(yīng)滯后等痛點(diǎn),WD4000以“非接觸厚度+三維微納形貌一體測(cè)量"為核心,1臺(tái)設(shè)備覆蓋厚度、TTV、粗糙度、三維形貌等全參數(shù)檢測(cè)。保障亞納米級(jí)測(cè)量精度與工件完整性,同時(shí)節(jié)省設(shè)備投入與場(chǎng)地成本、提升30%以上檢測(cè)效率。更以全周期售后服務(wù)體系,解決使用過程中的技術(shù)顧慮與運(yùn)維難題。
1.非接觸測(cè)量技術(shù)
適配碳化硅、藍(lán)寶石、氮化鎵、硅等多種精密材料,測(cè)量過程不接觸工件表面,從源頭避免劃傷、磨損等損傷,保障待測(cè)物品質(zhì)。搭配高分辨率光譜共焦對(duì)射技術(shù),厚度測(cè)量精準(zhǔn)度高,滿足從納米到微米級(jí)的嚴(yán)苛檢測(cè)需求。
2.一體集成設(shè)計(jì)
同步集成厚度測(cè)量模組與三維形貌、粗糙度測(cè)量模組,無需多設(shè)備切換與數(shù)據(jù)拼接,一次性完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度及三維形貌等核心參數(shù)測(cè)量。減少設(shè)備占地面積的同時(shí),避免多設(shè)備數(shù)據(jù)偏差,提升檢測(cè)流程連貫性與數(shù)據(jù)一致性。
1.高精度保障
融合光譜共焦對(duì)射+白光干涉雙重技術(shù),Z向分辨率達(dá)0.1nm,亞納米級(jí)局部高度測(cè)量能力,適配SEMI/ISO/ASME/EUR/GBT四大國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn),覆蓋300余種2D、3D評(píng)價(jià)參數(shù),數(shù)據(jù)可追溯,滿足行業(yè)合規(guī)檢測(cè)要求。
2.高效適配性
400x400x75mm大行程龍門結(jié)構(gòu),最大移動(dòng)速度500mm/s,檢測(cè)效率翻倍;兼容最大12寸晶圓,適配光滑/粗糙、低反射/高反射等多種表面特性工件,可靈活應(yīng)對(duì)襯底制造、封裝檢測(cè)等多場(chǎng)景需求。
3.穩(wěn)定可靠
采用高精度花崗巖基座與橫梁,搭配獨(dú)特隔振設(shè)計(jì),有效抵御地面振動(dòng)與空氣聲波干擾,測(cè)量重復(fù)性優(yōu)異;關(guān)鍵運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)配備高精度直線導(dǎo)軌與AC伺服直驅(qū)電機(jī),搭配0.1μm分辨率光柵系統(tǒng),長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性有保障。
4.易用性設(shè)計(jì)
集成XYZ三向位移調(diào)整操縱手柄,快速完成載物臺(tái)平移與Z向聚焦;雙重防撞設(shè)計(jì)避免誤操作損傷物鏡與工件,電動(dòng)物鏡切換功能簡(jiǎn)化觀察流程,降低操作人員學(xué)習(xí)成本,搭配專屬售后培訓(xùn),快速上手無壓力。
5.自動(dòng)化能力
支持Mapping跟隨技術(shù),可編程實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)、線、面自動(dòng)測(cè)量;機(jī)器視覺技術(shù)精準(zhǔn)識(shí)別圖像Mark點(diǎn),虛擬夾具自動(dòng)擺正樣品,兼容掃碼槍輸入與CNC測(cè)量模式,適配批量生產(chǎn)場(chǎng)景,大幅減少人工干預(yù),提升檢測(cè)效率與一致性。
1.測(cè)量與分析功能
(1)測(cè)量模塊:覆蓋厚度、三維形貌、粗糙度、平面度、微觀幾何輪廓等全維度檢測(cè)需求;
(2)數(shù)據(jù)處理:提供調(diào)整位置、糾正、濾波、提取四大模塊,支持圖像校平、去噪、剖面提取等精細(xì)化操作;
(3)深度分析:包含幾何輪廓、粗糙度、結(jié)構(gòu)、頻率、功能五大分析維度,滿足形位公差評(píng)定、ISO標(biāo)準(zhǔn)全參數(shù)分析等專業(yè)需求。
2.數(shù)據(jù)管理與輸出
(1)集中管理測(cè)量記錄,支持按工件型號(hào)、檢測(cè)日期、識(shí)別碼等多維度查詢;
(2)輸出Excel/Word/TXT/SPC等多種格式報(bào)表,附帶Mapping圖、控制圖及CA/PPK/CPK等統(tǒng)計(jì)值;
(3)兼容SECS/MES系統(tǒng)傳輸,支持定制遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)對(duì)接,無縫融入工廠現(xiàn)有生產(chǎn)體系。
1.核心應(yīng)用行業(yè)
襯底制造、晶圓制造、封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及精密配件、光學(xué)加工、顯示面板、MEMS器件等超精密加工領(lǐng)域。
2.適配工件特性
涵蓋納米到微米級(jí)工件,兼容光滑至粗糙、低反射率至高反射率表面,支持從6寸到12寸等多種規(guī)格晶圓及精密配件檢測(cè),應(yīng)用場(chǎng)景廣泛。


1.定制化前期支持
(1)售前技術(shù)對(duì)接:專業(yè)工程師一對(duì)一溝通需求,提供定制化檢測(cè)方案與設(shè)備配置建議;
(2)免費(fèi)演示驗(yàn)證:支持寄送樣品進(jìn)行實(shí)測(cè)演示,直觀呈現(xiàn)測(cè)量效果與數(shù)據(jù)精度;
(3)場(chǎng)地規(guī)劃指導(dǎo):根據(jù)工廠布局與生產(chǎn)流程,提供設(shè)備安裝場(chǎng)地規(guī)劃與前期準(zhǔn)備建議。
2.安裝與培訓(xùn)
(1)上門安裝調(diào)試:專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)上門完成設(shè)備安裝、校準(zhǔn)與調(diào)試,確保設(shè)備達(dá)到最佳測(cè)量狀態(tài);
(2)定制化培訓(xùn):針對(duì)操作人員、技術(shù)維護(hù)人員開展分層培訓(xùn),涵蓋設(shè)備操作、參數(shù)設(shè)置、日常維護(hù)、故障排查等內(nèi)容,培訓(xùn)后進(jìn)行考核,確保掌握核心技能;
(3)培訓(xùn)資料支持:提供詳細(xì)操作手冊(cè)、視頻教程、常見問題手冊(cè),方便后期隨時(shí)查閱學(xué)習(xí)。
3.全周期運(yùn)維保障
(1)定期維護(hù)服務(wù):每年2次上門巡檢維護(hù),包含設(shè)備精度校準(zhǔn)、部件檢查、軟件優(yōu)化等,提前規(guī)避故障風(fēng)險(xiǎn);
(2)快速響應(yīng)售后:7×24小時(shí)售后熱線與在線技術(shù)支持,工作日內(nèi)2小時(shí)快速響應(yīng),4小時(shí)內(nèi)提供解決方案,緊急情況24小時(shí)內(nèi)上門處理;
(3)備件保障服務(wù):核心零部件常備庫存,承諾48小時(shí)內(nèi)備件送達(dá),減少設(shè)備停機(jī)時(shí)間;
(4)軟件升級(jí):提供軟件功能免費(fèi)升級(jí)服務(wù),同步行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)迭代,保障設(shè)備長(zhǎng)期適配檢測(cè)需求。
4.合規(guī)與資質(zhì)保障
(1)設(shè)備資質(zhì)齊全:通過相關(guān)行業(yè)認(rèn)證,符合SEMI/ISO等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),檢測(cè)數(shù)據(jù)具備法律效力;
(2)售后團(tuán)隊(duì)認(rèn)證:所有售后工程師均經(jīng)過專業(yè)培訓(xùn)與考核,具備豐富的設(shè)備運(yùn)維經(jīng)驗(yàn),保障服務(wù)專業(yè)性。
中圖儀器WD4000晶圓測(cè)量?jī)x設(shè)備從采購(gòu)到報(bào)廢,全周期售后服務(wù)全程護(hù)航。無論是研發(fā)升級(jí)、批量質(zhì)檢還是現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè),都能精準(zhǔn)匹配你的核心需求。注:產(chǎn)品參數(shù)與服務(wù)可能根據(jù)技術(shù)升級(jí)實(shí)時(shí)更新,具體以新標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn),詳情可咨詢客服獲取完整資料。
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